Купить электронную книгу: Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Купить книгу?
- 10,62 Мб
- Отзывов: пока нет ( + добавить свой )
- Год издания:2015 г.
- Издательство:Ульяновск: УлГТУ
- Формат книги:PDF
- Жанр:Аппаратура
- Кол-во страниц:406
- Книгу купило:1 109 человек
- Автор:Горлов М. И., Сергеев В. А.
- Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий — В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Наряду с анализом тепловых моделей ППИ представлены новые оригинальные методы диагностического контроля их качества по теплоэлектрическим характеристикам, в частности методы контроля качества светоизлучающих диодов по частотным и токовым зависимостям модуля теплового импеданса и токовым зависимостям теплового сопротивления.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Что еще прочитать?
Комментариев
войти с помощью vk
Создать аккаунт
Войти
Случайная книга